2017 NI 半导体测试技术研讨会

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2017-07-18 09:00 - 2017-07-18 15:50

北京市海淀区创业大街昊海楼B1 - IC咖啡 [查看地图]

活动已结束

活动介绍

随着物联网时代到来,IC集成度越来越高,行业不停整合,全球竞争逐渐加剧,如何在这一时代下保证上市时间的同时降低测试成本,IC工程师面临前所未有的压力。而更加头疼的是,在实验室和量产测试中的传统ATE系统,却不能很好地扩展满足到当今IC产业不断变化的需求,在成本和上市时间上带来商业风险。设计很“丰满”,测试很“骨感”, 如何玩转IC测试,NI用一个研讨会教你搞掂——2017 NI 半导体测试技术研讨会!

会议日程

  • IC咖啡
  • 09:00-09:30
    签 到
  • 09:30-10:10
    平台化方法降低IC测试成本,加速上市时间
  • 10:10-10:50
    降低测试成本新方法——物联网芯片产测解决之道
  • 10:50-11:10
    Demo演示及茶歇休息
  • 11:10-11:50
    从实验室到量产——NI RFIC测试方案
  • 11:50-13:30
    午 休
  • 13:30-14:10
    使用模块化平台方法在混合信号IC验证中的优势
  • 14:10-14:50
    加速数字验证测试——ATE级PXI数字仪器
  • 14:50-15:10
    Demo演示及茶歇休息
  • 15:10-15:50
    解读构建SLT(System Level Test)的新软件架构
  • 15:50-16:10
    抽 奖